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연구 중심의 소재 전문기업 (주)쎄노텍

쎄노텍 연구소는 글로벌 소재 전문기업으로 성장하기 위해 다양한 세라믹 소재를 활용한 혁신적인 기술 개발과 핵심 기술 확보를 추진하고 있습니다.

저희 연구소는 조성합성, 성형기술, 분쇄기술, 분산기술, 입도제어 등의 기술 역량을 강화하며, 이를 바탕으로 고품질의 세라믹 비드, 세라믹 담체, 이차전지용 분체를 연구 및 개발하고 있습니다.

축적된 기술을 바탕으로 세라믹 소재 분야에서 우수한 제품을 생산하며, 새로운 응용 분야로의 확장을 통해 글로벌 시장에서 경쟁력을 확보하고자 합니다. 쎄노텍 연구소는 지속적인 R&D 역량 강화와 혁신을 통해 미래 기술을 선도하는 글로벌 소재 전문기업으로 도약하는 데 중요한 역할을 담당하고 있습니다.

현미경
쎄노텍 설비 쎄노텍 설비 쎄노텍 설비 쎄노텍 연구시설

R&D 장비리스트

품 명 영 문 모델명 스펙 제작 회사 사용 용도
광학현미경 Optical microscope BX51M x25, 50, 100, 200, 1,000 Olympus 가시광선과 렌즈를 이용하여 미세한 물체를 확대하여 관찰
실체현미경 Stereoscopic microscope SZ61TRC x8~56 Olympus 두 개의 독립적인 광학 경로를 통하여 입체적으로
시료를 확대하여 관찰
전자현미경 (SEM) Scanning electron microscope SU3500 x15~20,000 Hitachi 전자를 이용하여 미세한 물체를 확대 관찰하는 분석기기로
EDS를 이용하여 미세영역의 성분 검사
에너지 분산형
X선 분광기 (EDS)
Energy Dispersive
X-ray Spectrometer
EMAX 7021-H 원소 분석 범위 : B~U Horiba 시편에서 방출되는 특성 X선을 분석하여 구성 원소의 종류와
함량을 정성·정량 분석하는 장비
입도 분석기 Particle size analyzer MASTERSIZER 3000+ 0.01~3,500 μm Malvern Panalytical 전자를 이용하여 미세한 물체를 확대 관찰하는
분석기기로 EDS를 이용하여 미세영역의 성분 검사
LS 13 320 0.017~2,000 μm Beckman
Coulter
비드 크기 분석기
(CAMSIZER)
Particle size analyzer CAMSIZER P4 20 μm ~ 30 mm Retsch
(Microtrac)
이미지 측정법을 통하여 입자의 크기를 분석
형광 X선 분석기
(XRF)
WD-XRF
(X-ray fluorescence
spectrometer)
S8 TIGER Na~U 분석(일부 원소 제외) Bruker 시료에 X선을 조사하여 방출되는 형광x선을 분석함으로써
시료의 구성 조성 및 조성량을 측정
X선 결정상 분석기
(XRD)
XRD (X-ray diffraction) D2 PHASER 결정상 및 결정구조 분석 Bruker 시료에 X선을 조사하여 회절되는 각을 측정함으로써
물질의 결정구조를 분석
수분함량 측정기 Moisture Content Meter XM-60 Max. 230 ℃ / Max. 124 g /
0.001~100% 단위 수분 분석
Precisa 할로겐 열원을 이용하여 시료 내의 수분함량을 측정
체 분석기 Sieve shaker EML 200 최대 10단 체 분급 Haver & Boecker 체를 이용하여 입자의 크기를 측정
비표면적 측정기
(BET)
BET
(Specific surface
area measurement)
Tristar II 3020 ~2,000 m²/g 비표면적,
Pore Size, Pore Volume
Micromeritics 기체 흡착법을 이용하여 시료의 비표면적을 측정
참밀도 측정기 Gas Pycnometer AccuPyc II 1340 고정밀 참밀도 분석 Micromeritics 가스를 이용하여 시료의 진비중을 측정
분말 밀도 측정기 Envelope Density Analyzer GeoPyc 1365 벌크 밀도 및 압축밀도 분석 Micromeritics 분말 및 성형체의 벌크 밀도 특성을 평가하는 장비
수중 밀도 측정기
(비중 측정기)
Apparent density
measurement
AND, HR-250AZ,
AD-1654 Density
Determination Kit
Max. 252 g / 0.1 mg And 아르키메데스법을 이용하여 시료의 겉보기 비중을 측정
시차 열중량 분석기
(TGA/DSC)
Thermogravimetric analysis
(TGA/DSC)
Q 600 SDT 상온에서 최대 1,500℃ TA Instrument 시료를 가열 또는 냉각할 때 발생되는
열적거동(중량 변화, 흡열, 발열)을 측정
압축강도측정기 Universal testing machine Green PLN-970WS
(소형)
최대 300 kgf 인장·압축 시험 Test One 시료의 압축, 인장강도를 측정
압축강도측정기 Universal testing machine B850-A
(대형)
최대 2,000 kgf 인장·압축 시험 Due Test 시료의 압축, 인장강도를 측정
탄소 및 수분함량
측정기
Multi-phase carbon/
water determinator
LECO Model RC612 상온에서 최대 1,000℃
탄소 및 수분 함량 분석
Leco 시료를 가열할 때 발생되는 수소 또는 탄소를 포집하여 함량을 측정
점도 측정기 Rheometer LVDV2T CP 0.5~92,000 cP Brookfield 슬러리의 점도 및 점탄성을 측정
비커스 경도기 Micro vickers hardness HM-200A 하중 0.01~1 kgf 설정 후 경도 측정 Mitutoyo 다이아몬드 압자를 통하여 시편의 경도를 측정
분광 측색계 Spectrophotometer CM-5 색상 측정 파장 범위 360~740 nm Konica Minolta 가시광선 영역에서 물체에 반사된 빛을 프리즘으로 분해하여
각 파장별 반사율을 측정하고 물체의 색상을 수치적으로 분석
유도 결합 플라즈마
발광 분석기
ICP-OES (Inductively coupled
plasma-Optical emission
spectrometry)
ICAP PRO Li~U 까지(금속 및 준금속) 원소 파장
166~847 nm
Thermo Fisher
Scientific
고온 플라즈마 내에서 원소가 방출하는 고유한 스펙트럼을
이용하여 시료 내의 원소를 측정